中性子回折法

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中性子回折法（ちゅうせいしかいせつほう, Neutron diffraction; ND）

物質に入射した中性子線は、X線と同様にブラッグの回折条件

2・d・sin(θ)＝n・λ

（d：格子定数、θ：中性子線入射角、n：整数、λ：中性子波長)

を満たして回折する。低エネルギーのX線の有効侵入深さが数μm程度から1mm未満であるのに対して、試料にも依存するが中性子回折に用いられる熱中性子の有効侵入深さは、一般に数mmから数十mmと大きくなる場合が多く、物質内部の結晶配列や磁気構造の情報を取得可能である。

[編集] 外部リンク

• [1] 粉末回折パターン解析ソフトRIETANがフリーで公開されている
• 日本原子力研究開発機構
• 日本中性子科学会
• 日本物理学会

[編集] 関連項目

• 回折
• X線回折
• J-PARC
• JRR-3