真性半導体

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真性半導体(しんせいはんどうたい)とは、不純物を添加していない純粋な半導体のことを指す。英語名 (intrinsic semiconductor) からi型半導体と呼ばれることもある。

目次

[編集] 特徴

[編集] キャリア密度

ドーピングされている場合は、ドーパントの密度で決まるキャリア密度も、真性半導体の場合、不純物密度でなく、材質そのものからキャリア密度が決定される。このキャリア密度を真性キャリア密度(ni)という。この真性キャリア密度は非常に低い値(~1010 /cm3)である。これは、通常のドーピングで得られるキャリア密度より約10桁近く低い値であるため、通常半導体を使用する場合ドーピングされる場合が多い。

真性半導体のホール密度pと電子密度nは、n=p=n_i= \sqrt {N_CN_V}の関係が成立する(NC伝導帯の電子密度、NV価電子帯のホール密度である)。

[編集] フェルミ準位

ドーピングされている場合、フェルミ準位は、そのドナー準位やアクセプタ準位近傍に存在するが、真性半導体では、禁制帯のバンドのほぼ中央に位置する。 伝導帯のエネルギーをEC、価電子帯のエネルギーをEV電子ホール有効質量memhとした場合、真性半導体のフェルミ準位のエネルギーEi

E_i= {{E_C+E_V} \over 2}+ {1 \over 2}kT \ln {N_V \over N_C}={{E_C+E_V} \over 2}+ {4 \over 3}kT \ln {m_h \over m_e}

の形で表記される。

[編集] キャリア移動度

真性半導体では、不純物のドーピングがされていないため、キャリアはイオン化不純物散乱の影響を受けない。その結果、ドーピングされている際と比較して、非常に高移動度を示す。しかし、前述のように真性半導体ではキャリア密度が非常に低いため、これを利用した用途は限定される。ヘテロ構造による二次元電子ガスを利用した半導体素子(例えば、HEMT)の様な用途がある。

[編集] ドーピング

真性半導体ではキャリア密度が低いため、一般には、真性半導体に不純物をドーピングした不純物半導体(外因性半導体)が使用される。この不純物半導体では、ドナーもしくはアクセプタの熱励起によるキャリアが伝導に寄与する。これは、キャリアホール(正孔)のP型半導体、キャリアが電子N型半導体に大別される。 キャリアの種類は、不純物元素の最外殻電子の数に依存する場合が多く、最外殻電子が4より大きい時はN型半導体、最外殻電子が4より小さい場合はP型半導体になることが多い。シリコンの場合、リンヒ素をドーピングした場合N型半導体に、ホウ素をドーピングした場合P型半導体になる。

[編集] 関連項目

最終更新 2008年2月1日 (金) 18:14 (日時は個人設定で未設定ならばUTC)。
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